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打破樣品測(cè)樣局限性丨飛時(shí)曼頭掃描原子力顯微鏡

點(diǎn)擊次數(shù):1880  更新時(shí)間:2021-07-29

產(chǎn)品對(duì)比
                                         

              多模式原子力顯微鏡                                           頭掃描原子力顯微鏡
               FM-Nanoview1000AFM                                                         FM-Nanoview LS-AF


將我司基礎(chǔ)型原子力顯微鏡(FM-Nanoview1000 AFM)和探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)做對(duì)比,不難看出我司新研發(fā)的探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統(tǒng)原子力顯微鏡結(jié)構(gòu)上和測(cè)樣樣品上的局限性,是*先量產(chǎn)化商品化的,能實(shí)現(xiàn)樣品不動(dòng),探針移動(dòng)掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對(duì)測(cè)樣樣品尺寸、重量的局限性。在適用超大樣品測(cè)樣的同時(shí),飛時(shí)曼也將樣品臺(tái)的可拓展性增強(qiáng),實(shí)現(xiàn)便捷的多儀器聯(lián)用原位測(cè)樣。更可根據(jù)客戶需求,訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料與石墨烯材料的測(cè)樣研究中。


應(yīng)用案例




打破傳統(tǒng)局限,做真正意義上的國(guó)產(chǎn)原子力顯微鏡,為中國(guó)民族工業(yè)添磚加瓦,飛時(shí)曼一直在努力!


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